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    東莞市環儀儀器科技有限公司

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    周轉式高溫RDT測試老化柜

    文章出處:原創 編輯:admin 發表時間:2023-11-08

    一、產品簡介:

    周轉式高溫RDT測試老化柜可用于SSD產品進行RDT高溫老化測試,老化柜內風道為不銹鋼結構,箱內空氣封閉自循環。工作室內溫度由溫控儀自動控制,并有自動恒溫及時間控制裝置,并附設有超溫自動停電及報警電路,控制可靠,使用安全。


    二、技術參數:


    三、測試指標:

    ·支持SATAI/II/III的測試;

    ·支持SATA的測試片數定制化例如100片、150片、200片、400片等;

    ·支持研發微小型定制化,例如2片、6片等等;

    ·支持(室溫~+150度)的測試;

    ·支持自動化溫控測試;

    ·支持全部采用軟體進行智能化控制測試;

    ·支持測試測試軟體的定制化;

    ·支持箱內風速與溫度均衡;

    ·支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研發;


    四、產品特點:

    可滿足原生NVMe協議支持,兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

    測試容量大,快拆層板、插拔方便,產品水平插拔可以減少接口因產品重力造成的不良影響,提高板卡使用壽命

    配備周轉架可一次性拉出/推進測試產品,節約換線時間,極大的提升生產效率和設備稼動率。

    采用12V轉5V電流供電方式,充分保證每個板卡供電的穩定性,不懼大批量大容量產品測試;

    產品區與供電電源隔離;

    多個高精度溫度采集裝置,每層有獨立出風口及進風口保證溫度更均勻;

    產品可根據要求設置上電測試溫度;

     

    環儀儀器廠家提供完整的售后服務,每一臺環儀設備都有機身編號,只需提供機身號就可獲得高效的覆蓋全國30多個省市的售后服務,環儀承諾環境測試艙2年質保,終身維修,服務網點及周邊地區確保2小時快速響應。

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